材质分析市场部电话:13817209995 环氧解胶剂配方成分分析(环氧解胶剂配方比例)   微观结构;  我们专注于-环氧解胶剂配方成分分析-为生产制造型企计算材料科学事业单位提供一体化的产品配　　（3）X-射线荧光光谱(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一种非破坏性的分析方法，可对固体样品直接测定。在纳米材料成分分析中具有较大的优点；X射线荧光光谱仪有两种基本类型波长色散型和能量色散型；具有较好的定性分析能力，可以分析原子序数大于3的所有元素。本低强度低，分析灵敏度高，其检测限达到10-5～10-9g/g（或g/cm3）；可以测定几个纳米到几十微米的薄膜厚度。方技术研发服务。通过赋能各领域生产型企业，致力于推动新材料研发升级，为产品性能带来突破性的成效。　　2、沉降法(Sedimentation Size Analysis)本着以分析研究为使命，坚持以客户需求为导向，通过高性价比和严谨的技术服务，助力企业产品生产研发、性能改进效率。服务领域覆盖高分子材　　5、电镜的能谱分析；（1微米，体相）料、精细化学品、生物医药、节能环保、日用化学品等领域。我们坚持秉承“服务，不止于分析！”的服务理念，在提供不同产品配方技术研发服务的同时，为确保客户合法权益不受侵害，还提供专利申报　　透射电镜具有很高的空间分辩能力，特别适合纳米粉体材料的分析。等知识产权服务。您的信任，是我们的坚守动力和执着追求。　　3、二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）；（微米，表面）