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汽车电子零部件产品EMS扰度测试服务
2025-04-21 16:19  
价格:¥1.00/件
品牌:test114
检测项目:汽车电子辐射发射试验,电磁兼容,可靠性测试,第三方检测机构
检测机构:北京仪综所检测中心
测试报告:CNAS,CMA检测报告
起订:1件
供应:1999件
发货:3天内
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汽车电子零部件电磁兼容EMC扰度测试项目包含哪些,汽车电子零部件EMS测试服务,汽车电子设备电磁兼容敏感度测试服务,哪里可以实施汽车电子零部件的电磁兼容测试服务。

电磁兼容EMC测试作为电子零部件能测试的重要指标之,对汽车安全及产品--至关重要。汽车电子零部件EMC扰度测试失败时有发生,我们应该对汽车电子零部件的电磁兼容EMC测试项目有个大致的了解。


汽车电子零部件EMC扰度测试大致包含ESD(静电放电干扰),CTI-P(电源线瞬态扰度)、CTI-S(信号/控制线瞬态耦合扰度)、MFI(低频磁场扰度)、BCI(大电流注入扰度)、RI(空间扰度)以及PTI(便携式--机射频扰度)等常见的七项测试;

1.静电放电干扰测试ESD

ESD测试是通过静电放电模拟器对零部件的表面、线束、开关接口、远端I/O、耦合板等部位进行空气放电或者接触放电。静电放电干扰般分为直接电弧干扰和静电场干扰,通过观察放电电弧和被干扰产生的现象能快速--引起干扰测试失败的原因。

2.电源线瞬态扰度测试(CTI-P)

CTI-P测试是对汽车电子零部件的低压电源线注入车上其他零部件开启、断开或关闭瞬间产生的电源波动干扰。引起失败的原因常是电源线端口的防设计不当。

3.信号/控制线瞬态耦合扰度测试(CTI-S)

CTI-S测试是汽车电子零部件的信号/控制线感应到车上断开较大感负载的部件或其他部件开关过程中产生的瞬态干扰。常常是因为信号端口的防设计不当引起,可依次对线束测试,从而进行快速--。

4.低频磁场扰度测试(MFI)

MFI测试是考验汽车电子零部件在强电磁环境下干扰的能力。引起失败的原因与车上的关键磁器件或者低频通讯有关,通过观察干扰时出现的现象和干扰区域较易进行--。

5.大电流注入扰度测试(BCI)

BCI测试是通过感的耦合钳将中、低频的电磁干扰耦合到样品的线束上。由于BCI的般测试要求是所有线束起测试,所以在进行--时,需要对容易受干扰的线束分别进行测试,从而排查出受干扰的线路,再来调整其防设计。

6.空间扰度测试(RI)

RI测试时通过天线将中、高频的电磁干扰空间到样品或线束上。--时,可以通过对被测样品或线束分别进行屏蔽,来确认干扰的路径是线束还是样品,再有对的进行整。

7.便携式--机射频扰度测试(PTI)

PTI测试是通过手持式射频干扰模拟器将干扰直接耦合到样品或线束上,测试中可根据具的失败现象和干扰的区域来进行--。

实验室提供的其他服务:
1、汽车电子EMC测试服务;
2、汽车电子可靠测试服务;
3、各国产品认服务;
4、实验室场地租用服务;
5、提供产品测--AS,CMA测报告。


联系方式
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公司:机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
状态:离线 发送信件
姓名:彭光琼(女士)
职位:测试工程师
电话:010-63469388
手机:13691093503
传真:010-63469388
地区:北京
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