品牌:test114
检测项目:医疗装备，型式试验，第三方检测机构，检测报告
测试地点:北京市西城区广安门外大街甲397号
检测资质:CNAS,CMA检测报告
起订:1次
供应:19999次
发货:3天内
北京综所高低温实验室，提供高低温摸底租场服务，第三方测机构，--AS和CMA国认可测机构，出具测报告。提供GBT2423标准高低温测试报告，高低温试验属于气候环境试验中比较通用和普遍的测项目类型之，高低温气候环境试验模拟干热和干冷大气环境，如夏天的天热，冬天的天冷。
高低温环境试验测咨询彭工136-9109-3503
高低温环境试验分为高温工作、低温工作、低温贮存、高温贮存测试类型。
实验室具备从0.2m3至16m3的不同大小尺寸的高低温温度试验系统，具备独立的搭接样品的空间，试验箱侧均具备出线端子，可以引出电源线或信号线进行产品的工作操作试验。
高低温测试试验是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应。
高低温测试试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间。
高低温High and low temperature testing试验方：
预处：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。
初步测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。
样品断电时，试验样品应按标准要求放置在试验箱内，试验箱（室）内温度应至-50℃，保持4小时；不要在样品通电状态下进行低温测试，这步非常重要，因为芯片本身在通电状态下会产生20℃因此，在通电状态下，通常容易通过低温试验，必须先冻透，再通电试验。
在低温阶段结束后5min将试验样品转换为已调整的样品90℃保持在高温试验箱（室）内4h或者直到测试样品达到温度稳定，与低温测试相反，加热过程不断电，芯片内部温度保持高温，4小时后执行A、B测试步骤。
进行老化测试，观察是否存在数据对比错误。
高温和低温试验分别重10次。
重上述实验方，以完成三个循环。根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。
恢：试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢，直至试验样品达到温度稳定。
后测：根据标准中的程度等方评估测结果。
实验室安全按照--AS测范围基础标准GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方 试验 A：低温》 和 GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验 第 2 部分：试验方 试验 B：高温》标准进行高低温工作、高低温贮存、高低温限、干冷干热、温度变化、高温老化、高温寿、高低温耐受试验技术服务，出具带有--AS,CMA印章的第三方测报告。